Skip to main content
تشغيل أي مهارة في Manus
بنقرة واحدة

nanodevice-flakedetect-align

النجوم٢٨
التفرعات٦
آخر تحديث٦ يونيو ٢٠٢٦ في ٢٣:٣٩

Register source microscope images to the full_stack coordinate system using SIFT (same-substrate) or Chamfer+DE (cross-substrate) alignment. Use when aligning bottom_part, top_part, or other source images to the full_stack reference image for van der Waals stack detection.

التثبيت

التثبيت باستخدام Codex أو Claude انسخ هذا Prompt والصقه في Codex أو Claude أو مساعد آخر ليراجع صفحة Skill ويثبّتها لك.

مستكشف الملفات
6 ملفات
SKILL.md
readonly