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nanodevice-flakedetect-align

星标28
分支6
更新时间2026年6月6日 23:39

Register source microscope images to the full_stack coordinate system using SIFT (same-substrate) or Chamfer+DE (cross-substrate) alignment. Use when aligning bottom_part, top_part, or other source images to the full_stack reference image for van der Waals stack detection.

安装

用 Codex 或 Claude 帮你安装 复制这段 Prompt,粘贴到 Codex、Claude 或其他助手里,让它检查 Skill 页面并帮你完成安装。

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SKILL.md
readonly