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VLSI 测试与可测性设计 (Design for Testability, DFT) 技能，覆盖从缺陷到故障的抽象、 故障建模(固定/桥接/延迟/耦合故障)、故障等价与压缩、逻辑与故障模拟、测试生成(布尔差分、 D 算法、PODEM、FAN)、可测性设计(扫描设计/SCOAP)、逻辑 BIST(LFSR/MISR)、测试压缩、 逻辑诊断、存储器测试(March 算法)、内建自修复(BISR)、边界扫描(IEEE 1149.1)与核基测试 (IEEE 1500)。当用户需要理解或设计芯片测试、写…
Langue du texte source : chinois
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