cv-qnn-spatial-classification
Continuous-variable QNN advantage for spatial classification tasks. Controlled comparison showing CV-QNN outperforms DV-QNN by 18+ percentage points on wafer-map defect classification. CV structured layer captures fine spatial distinctions that DV misses. Use when designing QNNs for image/spatial classification, semiconductor yield, or any task requiring fine spatial pattern recognition.
Informations de source
- Dépôt
- hiyenwong/ai_collection
- Dernière activité de la source
- 13 juillet 2026 à 02:00
- Langue détectée de SKILL.md
- anglais
- Étoiles
- 2
- Forks
- 0
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